高濃度納米粒度儀可以顯示完整的粒度分布
更新時(shí)間：2025-02-13 點(diǎn)擊次數：133
APS從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。當聲音穿越泥漿或膠體時(shí)，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1-100MHz的頻率范圍內非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過(guò)所有的物質(zhì)媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問(wèn)題，因為在測量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。
APS取樣分析是快速和容易的，無(wú)需稀釋樣品。稀釋樣品費時(shí)，容易出錯，并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡(jiǎn)單地倒，或者連續泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室，APS的直觀(guān)的軟件在幾分鐘內做玩余下的工作。
主要用途：
1)半導體化學(xué)機械拋光(CMP)料漿；
2)陶瓷；
3)油墨；
4)乳劑穩定性；
5)藥品；
6)生物膠體；
7)熒光粉；
8)有機和無(wú)機顏料如Ti02和炭黑；
9)催化劑；
10)礦物；
11)聚合物乳液；
12)水和非水分散體系。
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