超聲電聲法Zeta電位儀是通過(guò)超聲電聲法測量流體中顆粒電荷特性的儀器。其原理基于顆粒在電場(chǎng)中的運動(dòng)行為和聲學(xué)效應。需要將待測流體樣品注入到一個(gè)透明的測量池中，并施加一個(gè)外部電場(chǎng)。在電場(chǎng)中，帶電的顆粒會(huì )受到電場(chǎng)力的作用，產(chǎn)生向陽(yáng)極或陰極方向的移動(dòng)。當顆粒在電場(chǎng)力和液體阻力之間達到平衡時(shí)，顆粒的速度變?yōu)楹愣ㄖ?，此時(shí)稱(chēng)為顆粒的移動(dòng)速度。
 

　　在測量池中，超聲電聲法Zeta電位儀通過(guò)超聲發(fā)射器發(fā)出一束聲波，這個(gè)聲波向測量池中的液體中傳播。當聲波遇到移動(dòng)的顆粒時(shí)，顆粒會(huì )反射一部分聲波。Zeta電位儀的接收器會(huì )接收到這些反射聲波，并分析它們的特性。
 

　　根據多普勒效應，當顆粒朝向聲源移動(dòng)時(shí)，反射聲波的頻率會(huì )比發(fā)射聲波的頻率高，而當顆粒遠離聲源移動(dòng)時(shí)，反射聲波的頻率則會(huì )比發(fā)射聲波的頻率低。通過(guò)測量反射聲波的頻率偏移量，可以計算出顆粒的移動(dòng)速度。
 

　　在測量時(shí)，Zeta電位儀還會(huì )改變外部電場(chǎng)的電壓，并記錄下顆粒移動(dòng)速度的變化情況。通過(guò)對不同電壓下顆粒移動(dòng)速度的分析，可以得到顆粒在電場(chǎng)中所受到的力的大小，從而計算出顆粒的電荷量。根據電荷量和顆粒的大小，可以計算出顆粒的Zeta電位。Zeta電位是一個(gè)表征流體中顆粒電荷特性的參數，它可以用來(lái)描述顆粒的穩定性、聚集性和分散性等性質(zhì)。
 

　　超聲電聲法Zeta電位儀的應用：
 

　　1.用于研究和分析顆粒的表面電荷分布情況，從而了解顆粒的表面性質(zhì)和穩定性。
 

　　2.通過(guò)測量顆粒的電位，可以了解材料中顆粒的分散狀態(tài)和電荷狀況，為材料的表征和質(zhì)量控制提供依據。
 

　　3.用于測量藥物納米粒子的表面電位，研究藥物納米粒子的穩定性和藥效。